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圖紙介紹 ： 端子折彎導(dǎo)通測試設(shè)備是專門用于測試電子元器件折彎后導(dǎo)通性能的裝置。這種設(shè)備通常具有高精度、高效率的特點(diǎn)，能夠確保電子元器件在折彎后仍然保持良好的導(dǎo)通性能。
在測試過程中，設(shè)備會(huì)對折彎后的端子進(jìn)行精確的導(dǎo)通性能測試，以檢測其是否存在斷路、短路或其他導(dǎo)通問題。通過測試，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決潛在的電氣連接問題，提高電子元器件的質(zhì)量和可靠性。
端子折彎導(dǎo)通測試設(shè)備包括測試夾具、測試電路、控制系統(tǒng)等部分。測試夾具用于夾持待測試的電子元器件，確保其在測試過程中保持穩(wěn)定；測試電路則負(fù)責(zé)模擬實(shí)際工作條件下的電氣環(huán)境，以測試端子的導(dǎo)通性能； 控制系統(tǒng)則用于控制測試過程，并記錄和分析測試結(jié)果。

行業(yè)用途 ： 機(jī)械設(shè)備

設(shè)計(jì)軟件 ： SolidWorks

版本/編輯 ： 2022 【可編輯、含參數(shù)】

文件格式 ： Sldprt Sldasm

下載權(quán)限 ： 鉆石會(huì)員.等級及以上